- Xử lý hình ảnh kỹ thuật số với hệ thống 2 camera được cấp bằng sáng chế (theo ISO 13322-2)
- Dải đo động học rộng từ 1 μm tới 8 mm
- Đo sự phân bố kích thước hẹp cũng như rất rộng chỉ trong 1 lần đo không cần thay đổi thấu kính, tiêu cự hoặc hiệu chuẩn.
- Dải đo từ 1 µm - 3 mm đối với X-Jet module và 10 µm - 8 mm đối với X-Fall module
- Hệ thống quang học mới với nguồn LED cực mạnh cho độ phân giải cao nhất và chiều sâu tuyệt vời cho độ nét cao.
- Thời gian đo ngắn từ 1 – 3 phút
- Kết quả đo 100% tương thích với phân tích bằng sàng rây
- Phần mềm trực quan
- Kết quả phân tích kích thước hạt chi tiết được lưu trong hơn 1,000 cấp hạt.
- Hiệu chuẩn chỉ mất vài giây
- Quy trình đo tự động.