Máy đo độ lõm mức pico Hysitron PI 89 SEM

☆☆☆☆☆ ( 0 đánh giá ) 228 lượt xem
Giá tham khảo : Liên hệ

Nhà cung ứng: Bruker Corporation

Thiết bị xác định tính cơ học mức nano SEM tại chỗ mạnh mẽ, chính xác và được mô-đun hóa

Chọn sản phẩm

    • Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter tận dụng khả năng công nghệ xử lý hình ảnh tiên tiến của kính hiển vi điện tử quét (SEM, FIBSEM, PFIB), cho phép có thể thực hiện kiểm tra tính cơ học mức nano định lượng trong khi đồng thời xử lý hình ảnh. PI 89 cải tiến sâu hơn công nghệ biến đổi điện dung dẫn đầu thị trường của Bruker, mang đến các cấu trúc xác định đặc tính cơ học mức nano SEM tại chỗ thương mại đầu tiên. Các kỹ thuật thử nghiệm có thể thực hiện được bao gồm đo độ lõm mức nano, thử nghiệm kéo, nén trụ, nén hạt, uốn dầm, nứt gãy, mỏi, thử nghiệm động và lập bản đồ tính chất cơ học.

  • THÔNG SỐ KỸ THUẬT

    • • Thiết kế nhỏ gọn của Hysitron PI 89 cho phép độ nghiêng hoạt động tối đa và khoảng cách làm việc tối thiểu để thu được hình ảnh tối ưu trong quá trình thử nghiệm. PI 89 mang đến cho các nhà nghiên cứu tính linh hoạt và hiệu suất cao hơn so với các hệ thống cạnh tranh:
    • Cấu trúc được thiết kế lại làm tăng tính linh hoạt và dễ sử dụng
    • Các quãng tuyến tính mã hóa 1 nm cung cấp khả năng lặp lại cao hơn trong các chế độ kiểm tra tự động đồng thời tăng phạm vi di chuyển
    • Độ cứng khung được cải thiện (~ 0,9 x 106 N/m) mang lại sự ổn định cao hơn trong suốt quá trình thử nghiệm
    • Các cấu hình bệ đỡ xoay và nghiêng (RT) cho phép chụp ảnh, xay FIB và tiếp cận vào các đầu dò như EDS, CBD, EBSD và TKD cho dữ liệu phân tích và xử lý hình ảnh

    Scroll