Máy phân tích tuổi vàng M1 ORA

☆☆☆☆☆ ( 0 đánh giá ) 449 lượt xem
Giá tham khảo : Liên hệ

Nhà cung ứng: T&N Trading And Investment Company Limited (T&N TRAVES CO., LTD)

Máy M1 ORA là máy đo quang phổ µ-XRF dạng để bàn dùng trong ngành nữ trang. Với kích thước nhỏ gọn, máy đặc biệt phù hợp cho những nơi có không gian hạn chế.

  • M1 ORA là sự lựa chọn hàng đầu của các Trung tâm TDC, Công ty dịch vụ phân tích, các cửa hàng vàng bạc, nữ trang. Thiết bị hoàn toàn đáp ứng tiêu chuẩn và yêu cầu theo quy định của Thông tư 22/2013/TT-BKHCN ngày 26/09/2013 của Bộ khoa học và Công nghệ, quy định về quản lý đo lường trong kinh doanh vàng và quản lý chất lượng vàng trang sức, mỹ nghệ lưu thông trên thị trường.
    TÍNH NĂNG
    - Máy M1 ORA là máy đo quang phổ µ-XRF dạng để bàn dùng trong ngành nữ trang. Với kích thước nhỏ gọn, máy đặc biệt phù hợp cho những nơi có không gian hạn chế.
    - Máy M1 ORA có thể xác định được thành phần của hợp kim trong nữ trang với độ chính xác cao. Có thể phân tích các nguyên tố từ Z=22 (Ti) trở đi.
    - Kích thước điểm bức xạ nhỏ nhất đến 0.3 mm cho phép phân tích không cần chạm và không phá hủy mẫu kể cả các mẫu có hình dáng phức tạp chỉ trong vài phút .
    - Có thể đặt mẫu vật có kích thước tối đa lên tới 100 x 100 x 100 mm trực tiếp lên bàn thử và tiến hành đo mà không cần thêm bất kỳ sự chuẩn bị nào. Việc định vị được hỗ trợ bởi một kính hiển vi quang học.
    - Máy được trang bị bộ phát hiện bức xạ huỳnh quang với vùng nhạy rộng. Bộ phận này sẽ bắt một lượng lớn bức xạ, có vai trò quan trọng trong phân tích chính xác. Các nguyên tố có hàm lượng trên 0.5 % đều có thể phân tích được.
     

  • THÔNG SỐ KỸ THUẬT
  • 1.1 Nguồn phát cao áp
    - Nguồn kích thích: Ống phóng tia X hiệu suất cao, Hội tụ micro với cửa sổ thủy tinh, Anode được làm từ vật liệu Tungsten
    - Công suất tối đa: 40 W
    - Điện áp tối đa: 40 kV
    - Cường độ dòng tối đa 1 mA
    1.2 Ông chuẩn trực (Collimators)
    - Bốn vị trí có thể thay đổi tự động
    - Đường kính 0.7mm, 0.5x0.5 mm, 0.2x0.2 mm và 0.1x0.3 mm
    1.3 Đầu đo phân tích công nghệ SDD
    - Đầu dò XFlash® dải hợp chất Silicon làm mát Kiểu Peltier
    - Diện tích vùng thu nhận tín hiệu 30 mm², Độ phân giải năng lượng < 150 eV@ Mn-Ka
    - Đường kính điểm đo: Bộ chuyển đổi chuẩn trực với đường kính 0.1 mm hoặc lớn hơn
    - Quan sát mẫu: Hệ thống camera màu độ phân giải cao CCTV, Độ phóng đại khoảng 30 lần
    - Tốc độ đếm xung tối đa: 40.000 cps
    1.4 Bệ di mẫu phân tích:
    - Bệ di mẫu di chuyển trục Z tự động
    1.5 Gói phần mềm: XSpect Pro
    - Cài đặt điều khiển bệ di mẫu XYZ tự động và cài đặt Camer Video
    - Đánh giá phổ (deconvolution)
    - Phân tích định tính với tính năng đánh dấu KLM-markers và“dò tìm píc”
    - Phân tích định lượng với phi chuẩn và chuẩn dựa trên phương pháp thực nghiệm bằng cách xây dựng đường chuẩn
    - Báo cáo người dùng cho phép tùy chỉnh được
    - Xuất dữ liệu ra file Exel
    - Tính năng kiểm tra quản lý chất lượng PASS/ FAIL
    - Khóa cứng USB kèm theo

    Scroll