Phần mềm phân tích định lượng dữ liệu kết cấu tia X

☆☆☆☆☆ ( 0 đánh giá ) 730 lượt xem
Giá tham khảo : Liên hệ

Nhà cung ứng: Công ty Malvern Panalytical

Phần mềm phân tích định lượng dữ liệu kết cấu tia X.

  • Texture là gói phần mềm của Malvern Panalytical cho phép bạn phân tích, tính toán và hình dung các hướng tinh thể ưa thích trong tất cả các loại vật liệu đa tinh thể. Cung cấp đa dạng các tùy chọn trình bày đồ họa bao gồm các chế độ trình diễn 3D đặc biệt để diễn giải các hình cực và biểu đồ chức năng phân phối theo hướng (ODF).

  • THÔNG SỐ KỸ THUẬT
  • Đầy đủ các tính toán kết cấu
    Texture tính toán ODF bằng phương pháp WIMV. Các phép đo hình cực thu được từ các vật liệu đa tinh thể với đối xứng tinh thể hình khối, lục giác, tam giác, trực giao, tứ giác hoặc đơn tà có thể được sử dụng làm dữ liệu đầu vào. Tính đối xứng của mẫu được sử dụng trong tính toán các phép đo hình cực là trực giao hoặc ba trục. Trước khi tính toán ODF, các số liệu cực có thể được chỉnh cho cường độ nền và làm triệt tiêu quang sai. Các hình vẽ cực cũng như các hình vẽ cực nghịch đảo có thể được tái tạo từ kết quả ODF.
    Biểu diễn đồ thị
    Các cửa sổ đồ họa đặc biệt, Chế độ xem, được sử dụng để quan sát và phân tích dữ liệu liên quan đến kết cấu: hình vẽ cực, đường cong hiệu chỉnh và ODF.
    Các hình vẽ cực có thể được hiển thị theo bốn dạng đồ họa khác nhau: Chế độ hiển thị 1D, 2D trong phép chiếu Wulff hoặc Schmidt, 2,5D (hình trụ) và 3D (hình cầu).
    ODF có thể được hiển thị theo dạng 2D hoặc 3D (bề mặt iso), với các trục tuân theo ký hiệu Bunge hoặc Roe.
    Các đường cong hiệu chỉnh cho nền và làm mờ được hiển thị dưới dạng 1D với vai trò một hàm của góc nghiêng.
    Xử lý dữ liệu
    Texture hỗ trợ định dạng dữ liệu XRDML của Malvern Panalytical. Dữ liệu tính toán có thể được xuất sang định dạng rw1 và cor cũng như được sao chép thông qua bộ nhớ tạm để chuyển sang các gói phần mềm khác như Microsoft Excel.

    Scroll