Hệ thống kiểm tra sản phẩm bằng tia chụp cắt lớp 2D & 3D X-eye SF160

☆☆☆☆☆ ( 0 đánh giá ) 582 lượt xem
Giá tham khảo : Liên hệ

Nhà cung ứng: Công ty SEC

Hệ thống kiểm tra sản phẩm bằng tia chụp cắt lớp 2D & 3D X-eye SF160.

Chọn sản phẩm

    • - Phân tích không phá hủy các linh kiện bán dẫn, SMT và các cấu kiện điện/điện tử
    - Tùy chọn ống Hybrid (160kv/500, 10.000 giờ/filament)
    - CT kép - Hình ảnh CT chất lượng cao/quét tốc độ cao

  • THÔNG SỐ KỸ THUẬT

    • Ống Tia X

    160 kV / 200 µA (tùy chọn 160 kV / 500 µA)

    Độ phân giải tối thiểu

    0.9 µm

    Kích thước bàn

    460 X 510 mm (tùy chọn 550 X 650 mm)

    TRỤC

    X, Y, Z, Tilt (70º), R, Y-aft, Cone beam R

    Bộ dò

    Màn hình 5 inch Pixel FPD

    Phương pháp chụp CT

    CT xiên/CT chùm tia hình nón

    Kích thước

    1.340mm x 1.460mm x 1.670mm

    Khối lượng

    2.000kg

  • ƯU ĐIỂM CN/TB

    • - Được gắn ống mở Micro-focus công suất cao 160kV cho khả năng phát hiện các khiếm khuyết rất nhỏ ở kích thước 1㎛
    - Có thể thu được hình ảnh chụp bằng tia X độ phân giải cao với độ phóng đại tốt nhất thế giới nhờ được lắp đặt ống mở giá thành cao theo tiêu chuẩn.
    - Có thể mua thêm chức năng CT kép, cho khả năng thu được vị trí & kích thước chính xác của các khiếm khuyết.

    Scroll