Phần mềm phân tích ứng suất trong lớp phủ đa tinh thể Stress Plus

☆☆☆☆☆ ( 0 đánh giá ) 860 lượt xem
Giá tham khảo : Liên hệ

Nhà cung ứng: Công ty Malvern Panalytical

Phần mềm phân tích ứng suất trong lớp phủ đa tinh thể Stress Plus.

  • Phần mềm Stress Plus của Malvern Panalytical dành riêng cho phân tích nhiễu xạ tia X (XRD) của ứng suất dư trong lớp phủ đa tinh thể. Phần mềm thực hiện phân tích ứng suất dư sin²ψ bằng cách sử dụng cả kỹ thuật đơn hướng và đa hướng. Stress Plus là một mô-đun tùy chọn dành cho phần mềm Stress của Malvern Panalytical, chia sẻ các tính năng chính của nó.

  • THÔNG SỐ KỸ THUẬT
  • Hệ thống đo
    Các hệ thống sau đây có thể được sử dụng để thu thập và lưu trữ dữ liệu ứng suất:
    - Empyrean với Data Collector 4.0 trở lên
    - X'Pert PRO với X'Pert Data Collector 1.3 hoặc 2.0 trở lên
    - X'Pert³ với phiên bản mới nhất của Data Collector 4.3 trở lên
    Cấu hình hệ thống đề xuất
    - Được thiết kế và hoạt động trên Windows 8.1 (64-bit) và Windows 10 (64-bit) Bản hiện tại cho các hệ điều hành Doanh nghiệp.
    - Một cấu hình PC đáp ứng các yêu cầu phần cứng (tối thiểu) cho hệ điều hành Windows bạn muốn là đủ.

    Scroll