Phần mềm phân tích ứng suất dư

☆☆☆☆☆ ( 0 đánh giá ) 884 lượt xem

Nhà cung ứng: Công ty Malvern Panalytical

Phân tích ứng suất dư bằng phương pháp sử dụng nhiễu xạ tia X.

Chọn sản phẩm

THÔNG TIN CHUNG

Phần mềm Stress của Malvern Panalytical dành riêng cho phân tích nhiễu xạ tia X (XRD) về ứng suất dư. Các giá trị được tính theo phương pháp nổi tiếng single-{hkl} sin²ψ. Các giá trị mặc định có thể tự cấu hình và khả năng tính toán lại kết quả ngay lập tức dựa trên sự thay đổi của các tham số đầu vào giúp Stress trở nên lý tưởng đối với cả các ứng dụng nghiên cứu và phân tích thông thường.

THÔNG SỐ KỸ THUẬT

Hệ thống đo

Các hệ thống sau đây có thể được sử dụng để thu thập và lưu trữ dữ liệu ứng suất:

- Empyrean với Data Collector 4.0 trở lên

- X'Pert PRO với X'Pert Data Collector 1.3 hoặc 2.0 trở lên

- X'Pert³ với phiên bản mới nhất của Data Collector 4.3 trở lên

Cấu hình hệ thống đề xuất

- Được thiết kế và hoạt động trên Windows 8.1 (64-bit) và Windows 10 (64-bit) Bản hiện tại cho các hệ điều hành Doanh nghiệp.

- Một cấu hình PC đáp ứng các yêu cầu phần cứng (tối thiểu) cho hệ điều hành Windows bạn muốn là đủ.