Phần mềm Mô phỏng và phân tích vật liệu nâng cao

☆☆☆☆☆ ( 0 đánh giá ) 813 lượt xem
Giá tham khảo : Liên hệ

Nhà cung ứng: Công ty Malvern Panalytical

Bộ công cụ phân tích dữ liệu tán xạ tia X từ các cấu trúc phân lớp.

  • Phần mềm Advanced Material Analysis and Simulation (mô phỏng và phân tích vật liệu nâng cao) (AMASS) cung cấp chức năng toàn diện để hiển thị, phân tích, mô phỏng và xác định đường cong tán xạ tia X từ các cấu trúc phân lớp. Hỗ trợ các đường rung (rocking curve), quét 2 trục, ánh xạ không gian nghịch đảo của các lớp dị thể (heteroepitaxial) mỏng, đặc biệt là các mẫu dạng lớp mỏng kết cấu phức tạp và đơn-tinh thể cũng như dữ liệu phép đo phản xạ tia X và dữ liệu tán xạ không chuẩn (khuếch tán) của các cấu trúc nhiều lớp tùy ý. Phần mềm cung cấp nhiều thông tin quý giá, chẳng hạn như sự bất cân xứng và hồi phục, thành phần và độ dày lớp, mật độ, độ nhám và các thông tin khác. Các thông số lớp mỏng thiết yếu này cũng có thể được định lượng dễ dàng và nhanh chóng bởi những người dùng thông thường.
     
    Chức năng này được cung cấp trong AMASS Basic có thể được mở rộng bằng tùy chọn dựng và mô phỏng HR (độ phân giải cao) và XRR (độ phản xạ tia X).

  • THÔNG SỐ KỸ THUẬT
  • - Giao diện đồ họa trực quan mới
    - Định dạng tài liệu theo dự án để lưu trữ, truy xuất và quản lý tất cả thông tin của một phiên làm việc bao gồm quét mở, dữ liệu mô phỏng, tất cả các thông số được thiết lập và các thông số vật liệu đã sử dụng.
    - Đồ họa hỗ trợ quét một lần, bản đồ khu vực và bản đồ phiến mỏng (wafer).
    - Khả năng kết hợp các tập dữ liệu 1 trục và 2 trục.
    - Chiếu và trích xuất từ bản quét 2 trục để tạo ra các bản quét 1 trục phục vụ các phân tích khác.
    - Tự động tìm kiếm đỉnh trong dữ liệu 1 trục (ví dụ như đường cong rung rocking) và 2 trục (như bản đồ không gian nghịch đảo).
    - Tự động đánh dấu đỉnh của chất nền, đa lớp và các viền bao.
    - Tự động trích xuất theo đường ngang và dọc tại các vị trí đỉnh được đánh dấu của dữ liệu 2 trục.
    - Các vật liệu của bất kỳ nhóm không gian nào được hỗ trợ.
    - Cấu trúc mẫu bao gồm độ dốc, siêu mạng lưới và các tham số liên kết.
    - Phần mềm tách rời sự biến dạng và hồi phục, bất tương xứng và thành phần cấu tạo, hướng và độ cong sai lệch của chất nền, lan truyền mẫu lớp và chiều dài tương quan xung quanh, độ dày và thời gian siêu mạng lưới từ các vị trí đỉnh được đánh dấu.
    - Xác định độ dày từ dữ liệu phản xạ phản chiếu bằng phương pháp Fourier và phương pháp trực tiếp.
    - Có thể được tạo ra một bản đồ lớp mỏng (wafer) bằng cách phân tích bất kỳ tập hợp các phương pháp quét. Việc này bao gồm phân tích trực tiếp các thông số tại đỉnh và từ các vị trí đỉnh cũng như dựng đường cong tự động (nếu có tùy chọn đó).
    - AMASS hỗ trợ dữ liệu định dạng XRDML, định dạng simple ASCII (* .asc) cũng như các định dạng Philips cũ (* .dnn, * .xnn, * .ann và * ynn).
    - Báo cáo kết quả có thể tùy chỉnh. Hỗ trợ các định dạng báo cáo PDF, RTF, XML và HTML.
    - Tất cả các phân tích có thể được thực hiện hoàn toàn tự động bằng cách sử dụng giao diện dòng lệnh. Khi được điều khiển bằng APP (chương trình xử lý tự động), cho khả năng tự động hóa toàn bộ quá trình từ đo đạc đến báo cáo kết quả.
    - Giao diện Mô hình đối tượng hợp thành (COM) giúp vận hành các tính năng AMASS từ các ứng dụng như PhytonTM hoặc Matlab®.
    - Hai lựa chọn thuật toán dựng: cho phép người dùng tùy biến phần mềm đáp ứng các yêu cầu dựng riêng biệt. (Chỉ khi sử dụng các tùy chọn này)
    - Phân tích độ tin cậy cho từng tham số của một mô hình mẫu nhất định. Kết quả của phân tích này là thước đo phạm vi độ tin cậy của tham số đã được chọn lọc sẵn. (Chỉ khi sử dụng các tùy chọn này)

    Scroll