Giải pháp phát hiện sản phẩm lỗi thông qua hình ảnh bề mặt

Trong nhiều lĩnh vực sản xuất công nghiệp, vấn đề tăng năng suất, giảm chi phí nhân công và đảm bảo sản phẩm chính xác đến từng chi tiết nhỏ nhất là bài toán khó đối với nhiều doanh nghiệp.
Sáng 16-11, Trung tâm Thông tin và Thống kê khoa học - công nghệ TPHCM (thuộc Sở KH-CN TPHCM) phối hợp cùng Công ty TNHH Vstech tổ chức hội thảo giới thiệu “Hệ thống phát hiện lỗi bề mặt sản phẩm bằng hình ảnh trong dây chuyền sản xuất”. Giải pháp công nghệ thông minh MVS ứng dụng AI để kiểm tra các lỗi nhỏ nhất, đảm bảo sản phẩm trước khi đến tay khách hàng có độ chính xác và chất lượng.
 
Hiện giải pháp này có thể ứng dụng vào rất nhiều ngành sản xuất như: dược, thực phẩm, đồ uống, linh kiện điện tử, nhận diện khuôn mặt, an ninh, giáo dục…