Phân tích phổ tán xạ năng lượng tia X – SwiftED3000

☆☆☆☆☆ ( 0 đánh giá ) 594 lượt xem
Giá tham khảo : Liên hệ

Nhà cung ứng: Công ty TNHH Hitachi Asia (Việt Nam)

Máy phân tích phổ tán xạ năng lượng tia X – SwiftED3000 dùng để quan sát bề mặt mẫu, có thể dò được các phần tử nhẹ từ Boron trở đi, có thể phân tích ở chế độ: Linescan, Mapping và phân tích đa điểm.

Chọn sản phẩm

  • THÔNG SỐ KỸ THUẬT

    • Nội dung

    Mô tả

    Loại đầu dò

    Đầu dò độ lệch silicon (SDD)

    Năng lượng

    161eV (Cu-Kα) (tương ứng với 137eV với Mn-Kα)

    Dải nguyên tố phân tích được

    B5 - U92

    Phân tích định tính

    Nhập ID tự động hoặc bằng tay

    Phân tích định lượng

    Phương pháp phân tích định lượng phi tiêu chuẩn

  • ƯU ĐIỂM CN/TB

    • ● Không dùng LN2. Phân tích nhanh và dễ dàng, kết quả phân tích đạt được trong vài phút.
    ● Ảnh và dữ liệu nguyên tố được hiển thị trên cùng một màn hình
    ● Tính năng nổi bật với Point&ID có thể phân tích điểm hoặc vùng

    Scroll