Kính hiển vi lực nguyên tử: Tosca

☆☆☆☆☆ ( 0 đánh giá ) 38 lượt xem
Giá tham khảo : Liên hệ

Nhà cung ứng: Anton Paar GmbH

  • Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) cấp cao nhất cho ngân sách nhỏ: với thiết lập đo nhanh nhất và biên độ mẫu lớn nhất, dòng Tosca luôn đáp ứng nhu cầu phân tích bề mặt nano AFM của bạn.

    Tosca là sự lựa chọn hàng đầu cho các nhà nghiên cứu, nhà tiên phong, nhà tư tưởng và nhà sáng tạo trong khoa học vật liệu công nghệ nano.

    Việc chuyển đổi chế độ bằng cách thay linh kiện: Tosca cho phép đo trên cùng một vị trí chính xác bằng cách sử dụng tất cả các chế độ có sẵn được kết hợp trong cùng một linh kiện.

  • THÔNG SỐ KỸ THUẬT

  • Tosca 400
    Máy quét
    Khoảng scan X-Y100 µm x 100 µm
    Khoảng scan Z15 µm
    Tốc độ quét tối đa10 hàng/s
    Mẫu
    Đường kính mẫu tối đa100 mm (200 mm***)
    Độ cao mẫu tối đa25 mm (2 mm***)
    Trọng lượng mẫu tối đa<600 g
    Vị trí lặp lại
    (đơn hướng)
    <1 µm
    Kính hiển vi video
    CameraCảm biến màu, 5 megapixel, CMOS
    Khoảng nhìn thấy
    1.73 mm x 1.73 mm
    Độ phân giải không gian5 µm
    Tiêu điểm
    Tiêu điểm có động cơ
    Máy ảnh tổng quan
    CameraCảm biến màu, 5 megapixel, CMOS
    Khoảng nhìn thấy40 mm x 40 mm
    Độ phân giải không gian50 µm
    Máy ảnh nhìn từ bên
    Máy ảnh nhìn từ bênĐen trắng, phạm vi quan sát 30 mm
    Chế độ
    Chế độ tiêu chuẩnChế độ tiếp xúc, chế độ khai thác (bao gồm cả hình ảnh pha), kính hiển vi lực bên, đường cong khoảng cách lực
    Các chế độ tùy chọnHình ảnh biên độ cộng hưởng tiếp xúc, kính hiển vi lực từ, kính hiển vi lực thăm dò Kelvin, kính hiển vi lực tĩnh điện, kính hiển vi lực nguyên tử dẫn điện, kính hiển vi lực nguyên tử dẫn điều khiển dòng điện
    Kích thước và trọng lượng
    Kích thước (D x R x C), bộ phận AFM490 mm x 410 mm x 505 mm
    Kích thước (D x R x C), bộ điều khiển340 mm x 305 mm x 280 mm
    Trọng lượng, bộ phận AFM51.1 kg
    Trọng lượng, bộ điều khiển7.8 kg
     
    * tùy chọn nâng cấp lên 90 µm x 90 µm
    ** tùy chọn nâng cấp lên 12 µm hoặc 15 µm
    *** khi sử dụng Giai đoạn Wafer (tùy chọn)
    Tosca là thương hiệu đã đăng ký (013412143) của Anton Paar.

  • ƯU ĐIỂM CN/TB
  • Các tính năng thông minh, được cấp bằng sáng chế bao gồm từng bước trong quy trình đo AFM tạo ra một quy trình AFM độc đáo, được sắp xếp hợp lý cho phép ra kết quả nhanh hơn 10 lần so với các hệ thống AFM thông thường.

    Thay vì dành nhiều ngày học cách vận hành AFM, hãy bắt đầu đo sau 1 giờ. Tải cantilever nhanh chóng và an toàn chỉ trong vài giây, căn chỉnh bằng tia laser tự động, điều hướng mẫu trực quan nhất và quy trình tham gia an toàn nhất trên thị trường giúp bạn có nhiều thời gian hơn để tập trung vào kết quả nghiên cứu của mình.

    Scroll